Измерители параметров полупроводниковых приборов

Измеритель параметров полупроводниковых приборов ИППП-1 предназначен для контроля и исследований вольтамперных характеристик (ВАХ) электронных компонентов, путём их визуального наблюдения на экране ПК в виде графиков или таблиц, расчёта на их основе стандартных параметров исследуемого объекта и отображения функциональных зависимостей этих параметров, запоминания и документирования результатов измерений.

Измеритель параметров полупроводниковых приборов ИППП-1/1 предназначен для контроля и исследований вольтамперных характеристик (ВАХ) электронных компонентов, путём их визуального наблюдения на экране ПК в виде графиков или таблиц, расчёта на их основе стандартных параметров исследуемого объекта и отображения функциональных зависимостей этих параметров, запоминания и документирования результатов измерений.

Измеритель параметров полупроводниковых приборов ИППП-1/3 предназначен для контроля и исследований вольтамперных характеристик (ВАХ) электронных компонентов, путём их визуального наблюдения на экране ПК в виде графиков или таблиц, расчёта на их основе стандартных параметров исследуемого объекта и отображения функциональных зависимостей этих параметров, запоминания и документирования результатов измерений.

Измеритель параметров полупроводниковых приборов ИППП-1/4 предназначен для контроля и исследований вольтамперных характеристик (ВАХ) электронных компонентов, путём их визуального наблюдения на экране ПК в виде графиков или таблиц, расчёта на их основе стандартных параметров исследуемого объекта и отображения функциональных зависимостей этих параметров, запоминания и документирования результатов измерений.

Измеритель параметров полупроводниковых приборов ИППП-1/5 предназначен для контроля и исследований вольтамперных характеристик (ВАХ) электронных компонентов, путём их визуального наблюдения на экране ПК в виде графиков или таблиц, расчёта на их основе стандартных параметров исследуемого объекта и отображения функциональных зависимостей этих параметров, запоминания и документирования результатов измерений.

ИППП-1/6, измеритель параметров полупроводниковых приборов, предназначен для исследований и контроля вольт-амперных характеристик (ВАХ) электронных компонентов, путём их визуального наблюдения на экране ПК в виде графиков или таблиц, расчёта на их основе стандартных параметров исследуемого объекта и отображения функциональных зависимостей этих параметров, запоминания и документирования результатов измерений.

Испытатель интегральных схем Л2-41 предназначен для определения годности интегральных цифровых схем путем их проверки на выполнение логических функций И, ИЛИ, НЕ.

Л2-54 предназначен для определения работоспособности маломощных транзисторов и диодов малой и средней мощности путем измерения их основных параметров. Применяется при разработке, эксплуатации, испытании и ремонте радиоэлектронного оборудования в лабораториях и цехах, а также в полевых условиях эксплуатации.

Л2-60 предназначен для определения годности ИЛС с количеством выводов до 16 путем их проверки на выполнение ло-гической функции.Наличие сменных нагрузок и контактных головок позволяет проверять ИЛС в разных корпусах. Для уменьшения погрешности измерения предусмотрена возможность подключения внешнего вольтметра.

Л2-68 заменяет прибор Л2-43, по сравнению с которым имеет расширенные пределы измерении, две частоты измерения (100 и 300 МГц), повышенную точность и производительность измерений, цифровую индикацию, встроенные средства автоматизации и диагностики, возможность подключения к КОП

Заменяет прибор Л2-22/1, по сравнению с которым имеет расширенные пределы измерения, увеличенное количество измеряемых статических параметров транзисторов, более высокие режимные напряжения и токи, возможность измерения обратного тока и прямого напряжения диодов, повышенную производительность измерений, цифровуюиндикацию, встроенные средства автоматизации, возможность подключения к КОП.

Л2-78 предназначен для проверки основных статических параметров маломощных полевых транзисторов с целью определения их исправности и пригодности для использования в различной аппаратуре.